Materialanalyse

Bestimmung der chemischen Zusammensetzung

Die Materialanalyse

In der Materialanalyse werden auf Grund der Komplexität in diesem Themengebebiet je nach Anforderung die chemische Zusammensetzung eines Werkstoffes bestimmt. Dabei stehen immer die beste Lösung und das beste Ergebnis im Fokus.

Nachweisgrenzen bis in den ppm-Bereich

Funktionen der Materialanalyse

Für die Ermittlung der chemischen Zusammensetzung Ihrer Werkstoffe mittels optischer Funkenspektrometrie (OES) steht uns ein hochauflösendes SpectroLab der neuesten Generation zu Verfügung. Mit diesem Gerät sind wir in der Lage Nachweisgrenzen bis in den ppm-Bereich (Parts per Million) zu bestimmen. Ebenso bieten wir Ihnen GDOES Analysen zur Tiefenprofilanalyse sowie Nasschemische Analysen (ICP/OES) für die chemische Elementanalyse von Pulver oder Spänen.

Unsere Leistungen in der Materialanalyse

- - Optische Emissionsspektrometrie (OES)
  - Nasschemische Analyse (ICP-OES)
  - Tiefenprofilanalyse (GDOES)
  - Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX)
  - Trägergasheißextraktion (TGHE) für ONH-Analyse
  - Verbrennungsanalyse für CS-Analyse

Metallanalyse der neuesten Generation

Optische Emissionsspektrometrie

Mit unserem modernen Spectrolab analysieren wir präzise die chemische Zusammensetzung Ihrer metallischen Werkstoffe. Die Ergebnisse vergleichen wir mit Normvorgaben oder mit Grenzwerten Ihrer eigenen Kundenvorschriften. Wir analysieren Guss, Eisen, Aluminium, Nickel und deren Legierungen sowie weitere Werkstoffe.

Analyse von Pulvern und Spänen

Nasschemische Analyse (ICP-OES)

Benötigen Sie die chemische Zusammensetzung von Pulvern, Spänen oder Flüssigkeiten? Dann ist die optische Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma die richtige Methode. Bei diesem Verfahren werden die Elemente in einer Lösung bei einer Temperatur von 5000 bis 7000 K atomisiert und zur Lichtemission angeregt.

Sie haben Fragen?

Sie haben Fragen zur Materialanalyse, benötigen Informationen oder sind interessiert an einer Beratung? Gerne helfen wir Ihnen weiter, melden Sie sich telefonisch oder direkt über unser Kontaktformular.

Jetzt Anfragen

Quantitative Elementkonzentration in dünnen Schichten

Tiefenprofilanalyse (GDOES)

Die Glimmentladungsspektrometrie GDOES (Engl.: glow discharge optical emission spectroscopy) bietet die Möglichkeit, Tiefenprofile von Schichten mit nur wenigen Mikrometern Schichtdicke zu analysieren. Die Nachweisgrenze dieses Verfahrens ist sehr niedrig und liegt im Bereich von nur wenigen ppm.

Materialzusammensetzung im Kleinen

Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX)

Benötigen Sie die chemische Zusammensetzung auf der Nano- oder Mikrometerskala von Verunreinigungen, metallischen oder nicht-metallischen Einschlüssen oder von unterschiedlichen Phasen im Gefüge? Dann ist die energiedispersive Röntgenspektroskopie verbunden mit unserem Rasterelektronenmikroskop genau das richtige Analyseverfahren.